品牌 KIKUSUI/日本菊水 應用領域 電子,電氣
KIKUSUI菊水TOS7210S絕緣電阻測試儀
可在 50Vdc-2000Vdc（分辨率 1V）范圍內實施設定
可通過面板側的開關即時切換施加電壓極性
輸出端子與接地電位間為浮地狀態。只測量通過測量點間的電流
可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示
KIKUSUI菊水TOS7210S絕緣電阻測試儀
PID 絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的 PID(Potential Induced Degradation) 現象進行評估， 以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀。附有極性切換功能，輸出電壓可達 2000V, 同時裝載了 nA 級分辨率的電流表，因此不只可以進行 PID 評估，還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部調用的面板存儲器及 RS232C 接口，因此也可以靈活對應自動化系統。
PID 現象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓，電池發電量顯著降低的現象。目前認為所施加的電壓越高并且越是在高溫、高濕的 環境下劣化現象越嚴重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數十 V，一旦直接連接的片數增加，串內的電位差將變得非常 高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為交流電源與系統相連 , 使接地形態發生變化。輸入端采用浮接（一側電極不能接地 線）的無變壓器方式近年也有所增加。這種情況下電池和地線間將發生高電位差。晶體硅太陽能電池模塊中，相對于邊框（接地線）負極電位高的電池容易發生 PID 現象。（請參照圖 1） 目前，日本國內以 Max 600V、歐洲以 max 1000V 的系統電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現了提高 Max 系統電壓以削減企業用大規模太陽能發電系統的串數、PCS 總數，提高發電效率的趨勢。
圖 2 模擬了晶體硅太陽能電池模塊處于高電位差的狀況。 邊框為正極電位、模塊電路處于負電位的狀況。晶體硅太陽能電池模塊的PID現象被認為是白板強化玻璃內的鈉離子向單元側移動，從而引起劣化。（薄膜類太陽能電池模塊也被確認出現 PID 現象，但是發生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。）現在，各種研究機構正在通過研究、試驗查找 PID 現象的原因。
可將對測試物施加的測試電壓設定在 50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）的范圍內。 假設太陽光發電系統的電壓在1000V以上，可對其進行評估。此外， 在電氣 · 電子部件、電氣 · 電子設備的絕緣電阻測試中， 也可對應JIS C 1302: 1994所規定的電壓范圍以外的測試。 在50V-1000V范圍內， 輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準。
輸出端子與接地電位間為浮地狀態。*1此外，使用屏蔽電纜作為輸出電纜。 這樣就可以不測量被測試物與大地間的電流， 只測量測試點間的電流， 就可確保評估測試的高敏感度和精確性。
*1：設定為正極的端子的對地電壓（±1000Vdc） 設定為負極的端子的對地電壓（+1000Vdc及-3000Vdc）
可通過主機面板的開關輕松切換輸出極性。 PID現象是一種可逆現象，施加負偏壓電壓可能會恢復。 極性切換是一項不需要對被檢品實施配線變更的便利功能。 此外，通過RS232C接口可實施由外部控制的切換。
在電阻顯示模式中，基于對數壓縮將對應電阻測量值的電壓輸出限制在0V-4V之間。 在電流顯示模式中，對應電流測量值及測量量程（4個量程）按線性標度輸出。 使用數據記錄器等外部記錄設備可對被測試物的變化、劣化狀況進行解析。
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