品牌 ITECH/艾德克斯 供貨周期 一個月以上 應用領域 電子,電氣
ITECH艾德克斯IT2801高精密源測量單元
5寸觸摸顯示屏，使源表具有出色的圖形用戶界面以及各種顯示模式，幫助工程師顯著提高測試效率。廣泛應用于分立半導體器件、功率芯片、無源器件、光電器件、微功耗量測以及材料研究等領域。
ITECH艾德克斯IT2801高精密源測量單元
六合一高精密SMU、降低您的測試成本
傳統的半導體I-V特性測量方案通常是復雜且成本昂貴的，需要多種儀器配合完成測試，如電壓/電流源，脈沖發生器，高精密電壓/電流表等。不僅占用有限的測試臺架空間，同時工程師需要編程實現多臺設備的控制及同步，才能確保測試結果的準確度。IT2800系列SMU為工程師提供了一種即經濟又高效的解決方案。它集六種設備功能于一體，將不同輸出和測量能力整合到緊湊的1/2 2U尺寸中，可精確地輸出電壓或電流以及同時測量電壓和/或電流。它兼具以下儀器的功能：
直觀的圖形化顯示，快速獲取產品特性
IT2800系列SMU的前面板有許多功能，以提高交互式使用的速度，用戶友好性和易操作性。這些功能包括5英寸彩色LCD觸摸顯示屏，USB 2.0 memory I/O端口、一個旋轉導航按鈕、trigger按鍵、功能按鍵以及主流的香蕉插座。USB2.0內存端口支持輕松的數據存儲，測試配置文件導入以及系統升級。IT2800提供圖形化和數字化兩種測量結果顯示模式，直觀的graph view，scope view以及record view視圖，極大地提高了臺架測試和I-V特性分析的效率。直觀的圖形化顯示，快速獲取產品特性Record view 記錄儀視圖允許用戶查看一段時間內的歷史波形和table數據，采樣時間間隔最小為100us，最多可記錄100萬點數據。它還支持導出到電子表格（.CSV），以便進一步分析，極大提高測試調試和debug的效率。示波視圖是在測試過程中實時繪制I-t或V-t曲線，最多可以捕獲和導出600000點的數據，且該功能不受其他功能影響，可以獨立同時運行。示波模式下，采樣率最高可達100000 points/s(10us)，有利于測試人員監測低頻瞬態信號。Scope viewGraph view 圖形視圖是在XY圖上顯示測量結果（如I-V和I-t/V-t曲線），這有利于快速評估器件特性，特別是那些從掃描測量
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